【新製品ニュース】ZEISS、半導体ラボでTEM試料作製を自動化する新しいFIB-SEM　Crossbeam 550 Samplefabを日本市場に投入

カールツァイス株式会社(東京都千代田区麹町、ヴィンセント・マチュー社長)は、透過電子顕微鏡(TEM)用薄膜試料(ラメラ)の全自動作製に特化した集束イオンビーム走査電子顕微鏡(FIB-SEM)であるZEISS Crossbeam 550 Samplefabを日本市場に投入します。本製品は昨年10月に海外で先行発表されたもので、この度、日本での提供を開始する運びとなりました。本システムは、半導体ラボのスループットと効率を最大化するように設計されて…